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致茂Chroma 3112 晶片測(cè)試分類(lèi)機(jī)

主要特色：

• 高信賴(lài)度之PnP自動(dòng)化測(cè)試分類(lèi)機(jī)
• x4 多盤(pán)置入自動(dòng)測(cè)試分類(lèi)
• Q方位 (X/Y/Z/θ) 可調(diào)式探針座模組
• 測(cè)式座產(chǎn)品堆迭檢測(cè)
• x12 輸出分類(lèi)盤(pán)可程式設(shè)定輸出類(lèi)別
• 全程即時(shí)良率顯示與控制
• 全程探針接觸狀態(tài)顯示 (選配)

Chroma 3112具備單頭與多頭之適合量產(chǎn)的PnP 自動(dòng)化晶片測(cè)試分類(lèi)機(jī)，可藉由治具變更處理 各種不同尺寸規(guī)格之晶片測(cè)試與分類(lèi)。此設(shè)備透 過(guò)PnP方式將晶片自晶片盤(pán)載入至測(cè)試站中，精 確的測(cè)試后依據(jù)測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定的放置于分類(lèi)盤(pán) 中。其高效率的模組化設(shè)計(jì)與精準(zhǔn)的機(jī)構(gòu)傳動(dòng) 結(jié)構(gòu)可確保在高速運(yùn)作下減少Jam Rate的量產(chǎn)要 求，多重檢查功能裝置可降低待測(cè)物發(fā)生異常的 損壞。

晶片測(cè)試運(yùn)用此自動(dòng)化測(cè)試分類(lèi)技術(shù)不僅能提升 生產(chǎn)效率、減少人力需求，同時(shí)也增加了測(cè)試穩(wěn) 定度及測(cè)試良率。此外，其簡(jiǎn)潔的機(jī)臺(tái)設(shè)計(jì)更可 節(jié)省機(jī)臺(tái)于測(cè)試廠之占地面積，幫助客戶大幅降 低生產(chǎn)成本。

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致茂Chroma 3112 晶片測(cè)試分類(lèi)機(jī)